领学术科研之先，创食品科技之新
—— 中国食品杂志社
为探索黄瓜果实对低温的忍受能力，为安全运输提供理论依据，本实验采用电导法结合二次回归正交旋转组合 设计来确定黄瓜果实低温冷害临界值。以黄瓜电解质外渗百分率为冷害指标建立模型，得到回归方程Y＝17.279 244＋ 0.996 139x1＋3.617 484x2－0.142 947x1 2－0.136 832x2 2，根据模型得出电解质外渗百分率在黄瓜受到冷害时的临界值 及温度、时间对冷害的影响。最终通过验证实验确定黄瓜受到冷害时电解质外渗率的临界值为17.28%。
2023年第44卷 2022年第43卷 2021年第42卷 2020年第41卷 2019年第40卷 2018年第39卷 2017年第38卷 2016年第37卷 2015年第36卷 2014年第35卷 2013年第34卷 2012年第33卷 2011年第32卷 2010年第31卷 2009年第30卷 2008年第29卷 2007年第28卷 2006年第27卷 2005年第26卷 2004年第25卷 2003年第24卷 2002年第23卷 2001年第22卷 2000年第21卷 1999年第20卷 1998年第19卷 1997年第18卷 1996年第17卷 1995年第16卷 1994年第15卷 1993年第14卷 1992年第13卷 1991年第12卷 1990年第11卷 1989年第10卷 1988年第09卷 1987年第08卷 1986年第07卷 1985年第06卷 1984年第05卷 1983年第04卷 1982年第03卷 1981年第02卷 1980年第01卷
电话: 010-87293157
地址: 北京市丰台区洋桥70号
版权所有 @ 2023 中国食品杂志社 京公网安备11010602060050号 京ICP备14033398号-2
