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—— 中国食品杂志社
建立一种基于台式能量色散型X射线荧光光谱对大米中重金属Cd的快速、直接测定方法。针对普通能量色散X射线荧光光谱灵敏度低的问题，通过X射线荧光光谱理论分析并结合样品杯试验提高Cd的信噪比，通过对谱图中逃逸峰的对比分析排除其对Cd信号的干扰。本方法操作简单，不需要对大米样品进行前处理，可直接对大米进行检测；本方法的相对标准偏差小于10%，检出限达到0.054 mg/kg，实验中所使用的工作曲线的测定线性范围为0.06～1.0 mg/kg，单一样品检测时间为18 min左右，实际样品测试结果同电感耦合等离子质谱法结果一致，能够满足现场快速、准确、无损测定大米中Cd含量的要求，可为大米中Cd是否超标提供一种快速筛查方法。
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