领学术科研之先,创食品科技之新
—— 中国食品杂志社
期刊集群
基于高光谱成像的马铃薯环腐病无损检测
来源:食品科学网 阅读量: 107 发表时间: 2017-06-07
作者: 郭红艳,刘贵珊,吴龙国,王松磊,康宁波,陈亚斌,何建国,贺晓光
关键词: 高光谱成像技术;马铃薯;环腐病;无损检测
摘要:

为探讨高光谱成像技术无损检测马铃薯环腐病的可行性,采用反射高光谱(980~1 650 nm)成像技术,以120 个马铃薯样本(合格60 个,环腐60 个)为研究对象,对比多元散射校正、标准正态变换、卷积+一阶导数等对建模的影响,优选出多元散射校正的光谱预处理方法;然后基于偏最小二乘回归系数法提取9 个特征波长(993、1 005、1 009、1 031、1 112、1 162、1 165、1 225、1 636 nm),建立特征波长下马铃薯环腐病的2 类线性判别分析(linear discriminant analysis,LDA)模型和4 类支持向量机(support vector machine,SVM)模型,即Fisher-LDA、马氏距离-LDA、线性核SVM、径向基核SVM、多项式核SVM和S型核SVM。结果表明,LDA模型中马氏距离法最优,SVM模型中S型核SVM最优,LDA模型整体优于SVM模型,最终确定基于马氏距离LDA的马铃薯环腐病判别模型为最佳模型,校正集、验证集识别率分别为100%和93.33%。实验结果表明高光谱无损检测马铃薯环腐病具有可行性。

电话: 010-87293157 地址: 北京市丰台区洋桥70号

版权所有 @ 2023 中国食品杂志社 京公网安备11010602060050号 京ICP备14033398号-2